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产品简介
其它参数
本系列产品是专为表面粗糙度检测设计的高精度传感器组件与辅助测量工装,基于触针式测量原理,通过不同结构的测头适配平面、曲面、小孔、沟槽及直角凹槽等复杂几何特征的表面形貌数据采集。
TS100 标准传感器具备通用平面与圆柱面检测能力。该传感器适用于常规平面及圆柱体表面的粗糙度测量,在测量孔内表面时,支持最小孔径为5mm,探测深度为22mm,是基础表面检测的标准配置。
TS110 曲面传感器专攻凸凹曲面工件检测。该传感器可测量曲率半径大于3mm的凸面或凹面工件,同时兼容平面与柱面测量,需配合 ETA620 测量平台使用以确保稳定性。
TS120 小孔传感器实现微小孔径内部检测。针对深孔内壁检测难题,该传感器可进入直径大于2mm的孔内,测量深度达9mm,亦可用于平面和柱面测量,扩展了仪器的应用范围。
TS130 与 TS131 沟槽传感器覆盖不同深度的槽宽与台阶测量。TS130 适用于槽宽大于2mm、槽深小于3mm的浅沟槽或高度小于 3mm 的台阶;TS131 则针对槽宽大于3mm、槽深小于10mm的深沟槽或高度小于 10mm 的台阶,两者均需配合 ETA620 平台使用。
TS140 直角测量机构解决凹槽与曲轴检测难题。该机构包含直角传感器与转接杆,通过横向运动机制,可测量最小槽宽7.5mm~20mm(取决于取样长度)的凹槽及曲轴表面,同时支持高度小于2.5mm的台阶测量,需配合 ETA620 平台。
ETA620 测量平台提供高精度花岗岩基准与升降功能。该平台采用丝杆升降结构,工作面为精度的花岗岩材质,尺寸为400×250×70mm,设有 V 型槽以固定小型工件。垂直升降高度为300±1mm,升降回程误差控制在手轮旋转 1/6 圈以内,显著提升测量重复性与精度。
TA630 微调平台实现多维角度精细调整。该平台支持 X-Y 平面移动及俯仰角调整,X/Y 向调整范围均为±12.5mm,旋转角度支持粗调 360° 与微调±5°,俯仰角度范围为0~5°,便于工件找正与对准。
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